建交33年以來,中國與新加坡兩國「龍獅共舞」,在多個合作領域取得長足進步,與新加坡科技研究局的合作就是其中之一。央視在新加坡專訪科技研究局下屬半導體實驗室,探訪國際首創技術的「高速三維輪廓形貌測量儀」。新加坡科研團隊強調,中國的完整產業鏈和廣闊市場,非常有助讓新技術廣泛投入半導體生產當中。
檢測芯片微米級缺陷
「高速三維輪廓形貌測量儀」是一部特殊的「顯微鏡」,能夠檢測半導體芯片微米級的缺陷,將芯片檢測耗時由30個小時縮減至僅需30毫秒。新加坡製造技術研究所高級研究員李顥解釋,不同芯片樣本之間或存在微米級別的高度差,但在實際生產中,這些差異牽一髮而動全身,可能影響數以萬計芯片的質素,「如果有一項完善的檢測技術,就可以避免這種損失。」
新加坡先進再製造與科技中心研發副總監程方表示,中國擁有完整的產業鏈和廣闊市場,為新加坡科研技術推廣提供空間。研發上述測量儀的企業創辦人吳友仁也稱,「我們將中國作為走向世界的第一站,以及推廣新技術的起點。中國有巨大的市場,如果我們能在中國市場競爭,那麼我們在哪裏都能生存。」
◆綜合報道
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