专题：磁盘IO（三）-ThinkSystem Raid卡性能调优

服务器选好了

测试软件也会用了

IO性能怎样才能达到最优呢？

IO测试的工具前两篇文章已经给大家做了相关介绍，小编常常问自己，是否还能从硬件层面对IO性能进行调优呢？专题第三篇文章接下来给大家介绍服务器参数调优，提高IO性能；

概念介绍：

Write Through(WT)和Write Back(WB)是阵列卡的两种工作模式，当选择WT模式，系统写入操作，并不经过阵列卡的Cache，直接与磁盘进行数据交互，而选择WB模式时，写入操作时会经过阵列卡的Cache；

Read ahead：预读取策略，采用此策略可提高随机读取性能，当第二次读取时，可提升命中率；

No Read ahead：非预读取策略；

测试环境

机器型号及微码信息：

Raid卡型号：ThinkSystem RAID 930-8i 2GB

2个虚拟磁盘，VD_1为SSD测试盘，VD_2为HDD测试盘，系统安装在m.2的磁盘上

为了达到测试效果，分为以下4个场景进行测试(只针对写性能测试,并使用统一的fio测试命令参数，Fio的使用已经在前面的文章里有相关介绍)：

1、打开write back测试HDD磁盘性能；

4*300G 10K盘，做raid0

2、打开write Throuth测试HDD磁盘性能；

4*300G 10K盘，做raid0

3、打开write back测试SSD磁盘性能；

4*240GB SATA SSD盘，做raid0

4、打开write Through测试SSD磁盘性能；

4*240GB SATA SSD盘，做raid0

PS：实验室只找到两块240G SSD + 2块480G SSD，条件有限;

开始测试

场景一：打开write back测试HDD磁盘性能；

ThinkSystem系列机器还是蛮方便的，可以直接在XCC界面设置raid，无需重启机器

测试命令：

测试结果：

场景二：打开write Throuth测试HDD磁盘性能；

测试命令：

测试结果：

场景三：打开write back测试SSD磁盘性能

测试命令：

测试结果：

场景四：打开write Through测试SSD磁盘性能

测试命令：

测试结果

结果分析

从上面的结果来看，我们的测试的四组结果分别为：

WB HDD：IOPS 4666 (WT模式下的2.8倍)

WT HDD：IOPS 1656

WB SSD： IOPS 59.3K

WT SSD： IOPS 196K (WB模式下的3.3倍)

一般情况下大家都认为Raid卡打开cache，会大幅提升IO性能，实验数据表明，只有在传统HDD的情况下符合这个说法，原因就在我们的RAID使用的是高速缓存(本实验环境缓存卡为2G cache)；

本实验环境下，SSD磁盘在开启WT模式时效能比WB模式提升3倍多，与HDD环境效果相反，是因为目前SSD硬盘性能已经大幅提升，当SSD数量达到一定的量，超出了cache的缓存能力，缓存卡反而会成为瓶颈，为发挥SSD的最佳性能，我们建议开启WT模式，绕过缓存；

建议大家根据自己的实际情况进行参数设置，以达到最好的IO性能，不同的配置及不同厂商的硬盘测试结果会有很大差异，测试结果以实际结果为准，本文只给相关原理解释；

PS：在某些条件下，比如物理机有系统压力，我们也可以通过调整UEFI设置的方式提高IO性能，特别是4路机器，此处我分享几个截图，是根据同事实际应用场景得出的结果，分享给大家参考；

前面的测试组的测试环境UEFI已经调优过，恢复默认设置后取一个场景进行测试(SR650 使用SSD WT模式测试)：

由此可以看出，在我的测试环境下，UEFI调整服务器性能后也可对IO有10%左右的加成；

调整项如下(有兴趣可参考)：

Operating Mode

Power

Processor

Memory

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