全面覆盖｜数之联ADC方案支持面板行业最全的尺寸工艺场景

近年来折叠屏、元宇宙、新能源汽车等新概念应用市场的应运而生，中国大陆显示面板市场总需求面积保持年化稳定增长，整体产业格局向好。液晶面板行业的崛起，带动面板质检需求的暴增。传统的缺陷检测主要由人眼辨别，这给企业把控生产质量和提高生产效率，带来巨大困难。

有鉴于此，数之联依托自研的AI分析引擎，针对面板行业推出AI质检解决方案，通过自动缺陷检测与分类系统（ADC），让AI替代人工完成缺陷的检测识别与分类，全面提升检测效率和准确率。

目前大部分工厂对面板缺陷检测的方法主要是依靠自动光学检查和人工目检。传统AOI机台检测只进行OK/NG二分类，最终还是依赖大量质检人员分类判级。而人工目检在缺陷判别上始终存在个体差异、检查员视力疲劳等因素，很多微小瑕疵不能被识别。企业面临人工判图结果不稳定，效率低，招工难、成本高等问题。

数之联融合先进的深度学习技术、图像处理能力，用AI算法突破了面板缺陷检测难点，赋能面板厂商，不仅能自动缺陷检测分类，还能实时监控产线状态、追溯历史数据，帮助工厂提升良率、降低客诉。

面板缺陷检测难点

在生产场景中, 检测对象形状、尺寸、纹理、颜色、背景、布局和成像光照的巨大差异都使复杂环境下的缺陷分类成为一项艰巨的任务。

01

背景复杂，缺陷极小

02

缺陷与缺陷间形态特征差异小，混淆程度高，分类极难

03

缺陷尺度变化大，大至整版，小至几个像素

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相同形态，需要通过不良大小进行缺陷区分

05

产品更迭频繁，背景变化大

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缺陷种类多

缺陷示意

应用场景

面板的制造主要可分为前段Array、中段Cell及后段Module三大工艺过程。数之联ADC系统全面覆盖行业最全的面板尺寸，以及A-Si、LTPS、IGZO、OLED等工艺体系，涉及Array、CF、CELL、OLED、TPOT、LLO、Mask、点灯机等多个制程场景。

ADC系统通过梳理业务规范，把在这些制程场景中产生的所有缺陷进行了标准化定义，不仅能自动进行缺陷检测和缺陷类型判定，还能标注缺陷的位置、大小等信息，为厂商提供高精准的缺陷分类结果。

该方案已在显示面板行业广泛落地应用。迄今为止，数之联ADC集合了20+工厂实施经验，每年判图量超过10亿张，帮助厂商节省了80%的质检人力，提升了10倍以上的缺陷检测分类效率，为客户带来至少2亿元的收益。