2022年12月08日,普迪飞和西门子 EDA 成功举办了主题为“实现更优NPI及良率提升能力”的联合网络研讨会,展示了西门子Tessent和普迪飞Exensio Manufacturing Analytics之间的集成与合作方案。
本次网络研讨会邀请了西门子EDA的Tessent AE manager Junna和普迪飞的Marketing Manager Sunny,对于合作的具体方案与应用场景进行了详细的讲解,其中包括如何使用分析、诊断和机器学习的方法,来加速新产品的上市,提高产品良率。
网络研讨会的内容包括:
本次有近百位来自芯片设计公司的工程师与专家现场参与了论坛并进行了提问与讨论,感谢大家的热情参与。
论坛报名成功者都将收到回看视频链接。其他如有需要请联系您的普迪飞或西门子EDA销售,或发送邮件至china-info@pdf.com。
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