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社区首页 >专栏 >NLM Photonics/Enosemi/AMF:多通道单波200G/400G PAM4硅-有机物混合(SOH)调制器

NLM Photonics/Enosemi/AMF:多通道单波200G/400G PAM4硅-有机物混合(SOH)调制器

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光芯
发布2025-10-13 11:28:18
发布2025-10-13 11:28:18
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文章被收录于专栏:光芯前沿光芯前沿

原文链接:

https://arxiv.org/abs/2509.24825

◆ 核心成果:高性能硅-有机混合光子集成方案

为满足200G/λ及更高速率的光通信需求,由NLm Photonics公司与Enosemi公司研发的硅-有机混合(SOH)光子集成芯片(PIC)实现了两大关键突破:其一,在1.6T-DR8架构的PIC中,成功实现224G PAM4信号的清晰眼图传输,其核心的SOH调制器VπL低于0.5 V·mm,电光带宽超过80.3GHz;其二,针对3.2T-DR8架构开发的PIC芯片,调制器带宽突破110GHz,可支持400G/λ传输。两种PIC均采用商用可交联有机电光(OEO)材料,且无需对现有硅光子工艺的前端流程进行修改,为高密度、低功耗光模块的规模化应用提供了技术支撑。

◆ 技术背景:SOH技术的选型逻辑

200G/λ以上速率的高效数据传输,对电光调制器的性能提出严苛要求——尤其是线性可插拔光模块(LPO)与共封装光模块(CPO),调制器的效率直接决定系统的功耗、集成度与成本。传统基于硅光子pn结的调制器已面临性能瓶颈,行业目前尝试了InP、TFLN、BTO及等离激元技术等替代方案,但均存在明显短板:InP成本高且集成难度大,TFLN带宽与效率难以兼顾,BTO工艺成熟度不足,等离激元技术则存在损耗过高的问题。

SOH技术的独特优势在此背景下凸显:其一,兼容成熟硅光子平台,无需改动前端工艺,可直接基于现有产线制造;其二,核心的OEO材料电光响应性能优异,其电光系数是TFLN的10倍以上,能显著提升调制效率;其三,近年在调制效率优化、插损控制与热稳定性提升三大关键领域取得突破,彻底解决了早期SOH技术的商业化障碍。

尽管SOH技术在20年前已首次报道,但此前的技术验证均局限于单通道调制器层面,本文首次将其拓展至多通道PIC架构,实现1.6T与3.2T的并行传输能力,且工作于光通信领域常用的O波段,具备极强的实用价值。

◆ 芯片设计与制造

1. 架构与版图设计

1.6T-DR8与3.2T-DR8两种PIC均由Enosemi与NLM Photonics联合设计,基于先进微铸造厂(AMF)的O波段GP v4.5工艺平台,采用200mm硅光子晶圆制造,确保与量产工艺兼容。两种架构的核心设计高度统一:每个PIC集成8个差分驱动(GSGSG封装形式)马赫-曾德尔调制器(MZM),每个MZM均配套mPD与Heater,用于实时监测并精准控制调制器的偏置状态;

激光输入采用双路设计,每路最大输入功率达+18dBm,可分别驱动4个MZM,实现8通道并行传输。为兼顾量产测试需求,芯片在量产型端面耦合器基础上,额外集成光栅耦合器抽头,无需破坏封装即可完成芯片性能验证,降低测试成本。

2. 关键器件结构

SOH调制器的结构设计是性能核心:1.6T-DR8架构的SOH调制器采用槽型波导设计,相移器长度为400μm;3.2T-DR8架构为提升带宽,将相移器长度缩短。两种设计的槽宽统一为160nm,两侧波导宽度为240nm,且严格遵循工艺设计套件(PDK)标准的脊形波导与平板层厚度,确保与现有硅光子工艺的兼容性。

为优化电极导电性与射频带宽,硅电极采用多级n型掺杂工艺,无需额外施加栅极偏置即可稳定工作;调制器通过金属互连与芯片的多层金属堆叠直接连接,并在片上端接100Ω阻抗,实现与高速射频信号的阻抗匹配,减少信号反射。这种紧凑型设计使8通道PIC的总面积仅为17mm²,大幅提升单位面积的集成密度。

3. SOH工艺实现

SOH工艺的核心是有机电光材料的处理,由NLM Photonics在管芯层面完成全套流程:首先,沉积Selerion HTX™(HLD型号)OEO材料;其次,进行封装、极化与交联处理,以提升材料的热稳定性。

由于AMF平台的端面耦合器为悬空结构,传统全片旋涂等涂覆方法会导致耦合器损坏,因此原型PIC采用定制化半自动微毛细管沉积系统,精准将OEO材料沉积至指定区域;目前已开发出适用于大规模量产的OEO材料沉积替代方案。

封装环节采用基于原子层沉积(ALD)的共形沉积技术,确保OEO材料被均匀包裹,提升环境稳定性;极化与交联处理则在Maple Leaf Photonics定制的半自动探针台上完成,通过基于多接触探针的方法,对芯片所有通道同时进行极化与交联,保证多通道性能一致性。尽管原型芯片的极化温度控制在115°C,但Selerion HTX™材料本身支持更高温度极化,可实现≥120°C的长期工作稳定性,满足工业级环境的温度要求。

◆ 性能验证:调制器与链路的双重测试

1. 调制器性能表征

(1)低频表征

由NLM Photonics采用Maple Leaf探针台完成,核心目标是确定调制器的偏置点与半波电压(Vπ):采用低频过调制法测量Vπ,以100kHz差分三角波作为激励信号,通过光栅耦合器实现光信号的输入与输出,完成测试。

(2)高频表征

由VLC光子学实验室完成,采用是德科技N4372型110GHz二端口光波组件分析仪,测量多通道的S参数与3dB带宽。测试结果显示:

- 200G/λ调制器:3dB带宽为80.3GHz,差分半波电压设计值为2.08V,1310nm波长下的插损为2.4dB;静态消光比通常≥25dB,部分通道可超过40dB;

单通道测得的最佳差分Vπ为1.57V。由于MZM的两个臂仅各承担一半电压摆幅,换算为单端推挽(SEPP)等效调制效率为0.31V·mm。

- 基于泡克尔斯效应关系式,代入参数(折射率n=1.9、模式限制因子Γ=0.14、测量波长λ₀=1290nm),计算得出器件内r33(电光系数)为343pm/V;在设计目标附近,通道间性能差异约为10%,SEPP等效调制效率稳定在0.5V·mm左右(对应r33为200-250pm/V)。

- 400G/λ调制器:因相移器长度缩短,设计Vₙ,diff提升至5.52V,但SEPP等效调制效率仍保持在0.5V·mm左右;3dB电光带宽均超过110GHz(部分样品实测带宽>110GHz)。需特别说明的是,测试中在约为设计带宽一半的频率处出现陷波,该陷波为仪器限制导致的测量伪影(因对调制器单臂进行二端口测量),并非器件本身的性能缺陷。

2. 链路传输测试

由NLM Photonics与是德科技合作完成,针对两个1.6T-DR8 PIC的多通道进行224G PAM4数据传输测试,测试系统搭建与关键流程如下:

- 测试平台:基于Maple Leaf半自动探针台,配备67GHz探针与1.85mm射频电缆(用于高速电信号传输);信号生成端采用是德科技M8050型误码仪(BERT),配套M8042A码型发生器、M8009时钟模块与M8059A;接收端采用是德科技N1000 DCA-X型数字采样示波器(DSO),配套N1032A光前端;激光源为Santec TSL-570型可调谐光纤激光器,输出波长为1310nm;PIC通过端面耦合方式与光纤连接。

- 信号补偿:因激光输入功率较低,且未使用折射率匹配环氧树脂导致边缘耦合效率下降,测试中引入Thorlabs PDFA-100型掺镨光纤放大器(PDFA),将光信号电平恢复至+4-5dBm,确保测试条件满足传输要求。

- 测试参数:每个通道测试前,通过热调谐将调制器偏置至正交点;采用PRBS13Q测试码型,搭配35抽头FFE、2级CTLE及TDECQ均衡器与测量模块;驱动摆幅范围为1.0-1.8Vₚₚₙ(差分峰峰值电压)。

- 测试结果:在112G波特速率下,PAM4信号的符号误码率(SER)通常约为1×10⁻²,低于SD-FEC阈值3.8×10⁻³;SER对驱动摆幅不敏感,且在不同器件间保持稳定,推测大部分误码由光学环节(如PDFA的噪声)引入,可通过优化耦合效率与提升输入激光功率进一步降低。

在奈奎斯特频率(56GHz)下,探针与电缆的射频损耗为2.88dB,因此1.8Vₚₚ的驱动摆幅实际施加到调制器的电压为1.29Vₚₚ;即便片上电压≤1V(对应1.4Vₚₚₙ驱动摆幅),仍能实现动态消光比>5dB、光调制幅度(OMA)>2.5dBm的传输性能,验证了低功耗优势。

◆ 技术价值:为400G/λ硅光子技术提供可行路径

本文展示的多通道SOH PIC,实现了三大核心价值:

1. 性能领先性:200G/λ通道的3dB带宽超80GHz,400G/λ通道超110GHz,SEPP等效调制效率达0.5V·mm,静态消光比≥25dB,关键指标均处于行业领先水平,满足200G/λ-400G/λ速率的传输需求。

2. 工艺兼容性:基于现有200mm硅光子晶圆与AMF GP v4.5平台,无需修改前端工艺,且已识别OEO材料的量产沉积方案,具备大规模量产潜力,可大幅降低制造成本。

3. 功耗优势:在低驱动摆幅(≤1.4Vₚₚₙ)下仍能保持稳定传输,动态消光比>5dB,适配LPO与CPO等低功耗光模块场景,符合下一代光通信系统的功耗需求。

该技术不仅验证了224G PAM4传输的可行性,更突破了传统硅光子调制器的性能瓶颈,为400G/λ硅光子技术提供了潜在的产业化路径——通过SOH材料与硅平台的结合,可在不牺牲集成度的前提下,实现高带宽、低功耗、低成本的多通道传输,为下一代高密度光通信系统奠定技术基础。

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原始发表:2025-10-09,如有侵权请联系 cloudcommunity@tencent.com 删除

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